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吕工0574-8300690313362838108 QQ2353929862邮箱：007@jiancezaixian.com 本标准规定了使用涡流测厚仪无损测量非磁性基体金届上非导电覆盖层厚度的方法。 本方法适用于测量大多数阳极氧化膜的厚度;但它不适用于一切的转化膜，有些转化膜因为太薄而 不能用这种方法测量（见第7章）， 本方法理论上能测量磁性基体金届上覆盖层的厚度，但不予推荐，在这种情况下，应采用 GB/T4956中所规定的磁性方法进行测量。 从测试原理是： 涡流测厚度仪器测头装置中产生的高频电磁场，将在置于侧头下面的导体中产生涡流，涡流的振幅和相位是存在于导体和侧头之间的非导电覆盖层厚度的函数。 覆盖层厚度 测量不确定度是本方法固有的。对于覆盖层测量的不确定度（确切地说）是恒定值，与覆盖层厚度无关，对于每一单次测量而言至少是0.5μm。对于厚度约大于25μm的覆盖层，测量的不确定度等于某一近似恒定的分数与覆盖层厚度的乘积。 如果对厚度等于或小于5μm的覆盖层测量时，要取几个读数的平均值。 厚度小于3μm的覆盖层厚度测试可能达不到规定中的准确度要求。
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